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Nueva edición del Ciclo de Conferencias ‘IUMA Seminar Series’
*El ciclo de conferencias comienza el jueves 8 de octubre con una charla a cargo de investigadoras de la Universidad Carlos III (Madrid) Celia López y Marta Portela
El Instituto Universitario de Microelectrónica Aplicada (IUMA) de la Universidad de Las Palmas de Gran Canaria (ULPGC)retoma en el Curso 2015-2016 el Ciclo de Conferencias IUMA Seminar Series, que comenzó en el curso académico 2012-2013 y que prevé la organización mensual de charlas a cargo de científicos y profesores de prestigio internacional sobre temas de interés sobre la Ingeniería.
La nueva edición de este ciclo de charlas comenzará el próximo jueves 8 de octubre, a partir de las 16.00 horas, en el Edificio de Electrónica y Telecomunicación (Sala de Tele-enseñanza – Pabellón A. Campus Universitario de Tafira). Además, se ha programado la misma charla el viernes 9 de octubre, en horario de mañana (9 a 13 horas) para que puedan asistir todas las personas interesadas. La entrada es gratuita y libre pero requiere inscripción previa a través del correo seblopez@iuma.ulpgc.es
El ciclo de conferencias comenzará con las invitadas especiales, las Dras. Celia López y Marta Portela, profesoras de las Universidad Carlos III de Madrid, quienes hablarán sobre Diseño y evaluación de circuitos tolerantes a fallos debido a los efectos de la radiación.
Descripción de la charla
Los circuitos integrados pueden fallar debido a los efectos de la radiación ionizante. Tradicionalmente, estos efectos eran de gran importancia únicamente en aplicaciones aeroespaciales y aviónica. Sin embargo, debido a las características de las tecnologías de fabricación actuales, los circuitos integrados son cada vez más sensibles a estos efectos, y a pesar de la protección de la atmósfera, también afectan a la fiabilidad de los circuitos en aplicaciones terrestres como la automoción o los sistemas médicos.
El seminario describe las principales fuentes de error debidas a la radiación ionizante que afectan a los circuitos, explica las soluciones existentes para evaluar y endurecer circuitos digitales, tanto si se dispone del diseño (descripción VHDL) como si se trata de un componente comercial.